BI4201-LIV LIV 测试系统

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模块器件老化测试系统 BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不...

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BI4201-MOD 模块老化系统

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模块器件老化测试系统 BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不...

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BI4201-OE OE 老化系统

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